當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚儀 > Filmetrics膜厚儀
產(chǎn)品分類
Product Category
Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時(shí)間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
更新時(shí)間：2024-11-09
型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：3052
F2-RT 光譜反射和透射測(cè)量系統(tǒng)是美國Filmetrics新推出的物超所值同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的儀器。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2885
Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標(biāo)光譜與多條反射光譜比較 – 自動(dòng)評(píng)估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀數(shù)和計(jì)算誤差。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：3043
Filmetrics 自動(dòng)化厚度測(cè)量?jī)x能以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度，一般較短的波長 （例如， F50-UV） 可用于測(cè)量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測(cè)量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
更新時(shí)間：2025-01-16型號(hào)：F50廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：5493
Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)xF10-HC薄膜測(cè)量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度，加上F10-HC軟件*的先進(jìn)模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：F10-HC廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2715
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)xF20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：F20廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：4019